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　　涂层测厚仪的核心原理基于物理场(磁场或涡流)的变化，间接换算出涂层厚度。
 

　　涂层测厚仪主要分为两类：
 

　　磁性测厚法
 

　　适用基材：铁磁性金属(如钢、铁、镍等)。
 

　　原理：探头内置磁铁或电磁线圈，通电后产生稳定磁场。当探头接触涂层表面时，非磁性涂层(如油漆、橡胶)会&濒诲辩耻辞;阻隔&谤诲辩耻辞;磁场，导致磁路路径变长，磁通量减小、磁阻增大。传感器捕捉磁场变化，转化为电信号，再通过校准曲线换算为涂层厚度。
 

　　特点：测量精度高，适用于薄涂层检测，是工业中常用的方法之一。
 

　　涡流测厚法
 

　　适用基材：非铁磁性导电金属(如铝、铜、镁等)。
 

　　原理：探头内置高频振荡线圈，通电后产生高频交变磁场。当探头靠近基材时，磁场在基材表面感应出涡流。涂层(非导电)会&濒诲辩耻辞;削弱&谤诲辩耻辞;磁场强度，导致涡流强度降低，进而影响探头线圈的阻抗。仪器通过检测阻抗变化，换算为涂层厚度。
 

　　特点：适用于非铁金属基材，但精度略低于磁性法。